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OBLF直读光谱仪QSG 750-II

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发表时间：2021-07-08 13:53

QSG 750-II 火花发射光谱仪也可称为 OBLF 旗舰。在操作员期望最低检测限、最高重现性和有关被检样品材料的额外冶金信息的任何地方，单或多矩阵设备都可以成功使用。用户范围从初级生产者，如钢铁厂或其他金属厂，到加工公司，再到研究机构和大学。

乍一看，所述QSG 750-II比得上QSN 750-II。与其他 OBLF 光谱仪的主要区别在于数据采集系统，该系统基于 OBLF 开发的GISS 技术（单火花门控集成）。与 QSN 750-II 具有相同的空间尺寸，它还配备了久经考验的硬件组件，例如温度稳定的 750 mm真空光学器件、可自由配置的门控数字源 (GDS)和获得专利的自清洁火花支架装。排气过滤器可确保清洁使用过的氩气。设备所有重要部件的良好可达性保证了操作员可以毫无问题地进行维修工作。

主要特征

  • 多矩阵应用

  • 最多可测量 64 个 PMT 元件通道

  • GDS III 建议

  • 真空光学

  • 自清洁火花架

  • 时间分辨光谱法 (GISS)

  • 包含分析 (GISS)

  • 适用于自动化

  • 带 ULB 的可选双电极系统

  • 可选自动电极清洗

更多的信息

QSG 750-II 使用由 OBLF 开发的具有GISS 技术（单火花门控集成）的数据采集系统。通过对所有测量通道的单个火花强度进行测量和在线处理，再加上时间分辨光谱技术，还有许多额外的应用选项。

例如，单火花光谱法 (PDA) 可提供有关样品微观组成的重要信息。这里的关键词是检测样品的不均匀性、溶解和未溶解成分的区别（例如钢中的铝）以及夹杂物的检测和测定。为了充分利用这些可能性，OBLFwin软件不仅包括所有常见的标准功能（材料控制、自动程序选择等），还包括用于简单参数化不良样品检测或夹杂物确定的附加功能。所有单个火花数据都可以导出到其他计算机系统。

与标准光谱仪相比，时间分辨光谱法可以减少光谱干扰并显着提高许多元素的检测限。这为纯金属分析开辟了全新的途径。

QSG 750-II 的所有应用不仅可以用于手动操作，还可以用于自动操作，特别是在钢铁行业中的许多应用都表明。在这种情况下，样品由机器人处理。反电极由安装在火花台上的清洁装置清洁。获得的测量结果通过网络传输的方式自动传输到上级系统。集成的软件模块控制和监测光谱仪的功能，包括控制和重新校准样品的分析。

设备和软件操作的精确说明当然是 QSG 750-II安装的一部分。客户只需提供电气和氩气连接。

技术规格

光学

  • Paschen-Runge 设置中的光谱仪

  • 罗兰圆直径 750 毫米

  • 可用波长 110-770 nm

  • 光学元件和测量值记录可实现最佳长期稳定性温度稳定在 ± 0.1 °C

  • 计算机控制的自动分析

  • 彗差校正狭缝

  • 针对各种波长范围优化的光电倍增管类型

真空系统

  • 铸造轻金属真空室

  • 免维护旋片泵

  • 真空泵集成在外壳中

  • 泵运行时间 <5%

  • 防止油回火和油扩散

  • 自动压力控制和压力稳定

火花激发

  • 采用 Stromtor 技术的门控数字源 (GDS)

  • 免维护

  • 射频高达 1 kHz

  • 单极中压放电

  • 预点火和积分参数可以单独参数化

  • 射频和放电特性可自由参数化

  • 点火电压 20kV

火花支架

  • 为低 Ar 消耗量优化的氩气冲洗

  • 氩脉冲吹扫以清洁火花架

  • 可自由使用的 Spark 支架

  • 标配 12 mm 开口，可选配小零件板和线夹

  • 无磨损钨电极

  • 低磨损火花支架板

  • 气动样品压力，优化用于快速更换样品

  • 可选配自动电极清洁

  • 每次分析大约消耗 3 升氩气

  • 易于清洁

电子产品

  • 稳定的 PMT 高压

  • 每个测量通道 23 位 AD 转换

  • GISS 技术（单火花门控集成）

  • 用DSP处理器控制

  • 光谱仪 PC 的 USB 接口

质量重量

  • 宽度约 104 厘米

  • 高度约 130 厘米

  • 深度约 90 厘米

  • 重量约 460 公斤

电气连接

  • 230V，50/60Hz，1.5kVA

  • 待机模式下约 500 W

环境条件

  • 允许的工作温度 10 - 40 ºC

电脑硬件

  • 标准电脑系统

  • MS Windows® 10 操作系统，具有客户特定的国家和语言设置

软件

  • OBLFwin 光谱仪程序

  • 简单的常规操作

  • 可自由参数化的样品 ID

  • 自动再现性控制

  • 自动平均

  • 超过校准曲线时的警告标志

  • 动态适应测量过程的不良样品检测（选项）

  • 根据客户要求提供任意数量的分析程序

  • 每个程序都有单独的分析参数

  • 多元校准（考虑线叠加和矩阵效应）

  • 多个程序的轻松同时重新校准

  • 自动程序选择

  • GISS 参数的公式编辑器

  • 图形单火花模块

  • 分析中夹杂物大小的输出

  • 材料控制和识别

  • 类型校准和类型校正

  • 光谱仪控制样品的设置和测量

  • 显示所选测量的平均值和标准偏差

  • 定期重新校准的自动通知

  • 自动显示质量名称或材料编号

  • 可自由编辑的材料数据库

  • 证书打印

  • 分析数据库

  • 各种统计功能，包括控制图的图形显示

  • 自动分析数据导出

  • 监控系统值

  • 系统诊断模块

  • 软件支持的维护任务执行，例如窗户清洁


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