OBLF直读光谱仪VeOS

• 全面灵活地覆盖所有分析任务

• 简单的扩展选项

• 最新、专门开发的探测器技术

• 在检出限、精密度、稳定性方面表现出色

• 坚固的结构，适用于恶劣环境

• 最广泛的多矩阵应用是可能的，而不会影响待测元素的选择

• 精确分析 N 和最低碳含量 (ULC)

OBLF 的 VeOS 是第一款具有基于半导体的检测器系统的固定式火花光谱仪，其分析性能 - 包括实验室光谱仪所需的光谱分辨率 - 丝毫不逊色于已建立的基于光电倍增管的设备。专为火花发射光谱开发的光电探测器首次亮相在 130 到 700 nm 的整个所需波长范围内具有出色的性能。光敏探测器的设计特别适合发射光谱的需要。它们的特点是光敏表面比同类系统大两个数量级。这是第一次有可能将光谱灵敏度和光谱分辨率的最佳组合与分析任务的最大可能灵活性结合在具有众所周知的 OBLF 质量的最新设计设备中。

VeOS 还采用全新的、用户友好的外壳。由于其紧凑、坚固的结构和易用性，它非常适合用于生产设施、进货和材料控制以及具有广泛分析任务的测试实验室。在不干扰系统的情况下，分析任务的后续扩展很容易且可能。

为了确保不受安装地点外部条件的影响，探测器和专门开发的读出系统安装在温度稳定的真空光学元件中。与所有 OBLF 光谱仪一样，VeOS 使用免维护的数字GDS III激发，可用于产生针对各自应用优化的火花放电，并结合较短的分析时间。优化后的火花台采用 OBLF 专利的自动脉冲清洁技术，因此可实现极长的维护周期和低运营成本。新的基于 Windows® 的光谱仪软件 OBLFWin 允许设备的简单操作并启用火花光谱的所有常用设置。

光学

• Paschen-Runge 设置中的光谱仪

• 罗兰圆直径 500 毫米

• 可用波长 130-700 nm

• 光学和读出系统温度稳定在 ± 0.1 ° C，以获得最佳的长期稳定性

• 带冷却系统的光学和读出系统

• 计算机控制的自动分析

• 针对相应波长范围优化的传感器线

• 没有传感器线路涂层的高紫外线灵敏度

真空系统

• 轻金属真空室

• 免维护旋片泵

• 真空泵集成在外壳中

• 泵运行时间 <5%

• 防止油回火和油扩散

• 自动压力控制和压力稳定

火花激发

• 采用 Stromtor 技术的门控数字源 (GDS)

• 免维护

• 射频高达 1 kHz

• 单极中压放电

• 预点火和积分参数可以单独参数化

• 射频和放电特性可自由参数化

• 点火电压 20kV

火花支架

• 为低 Ar 消耗量优化的氩气冲洗

• 氩脉冲吹扫以清洁火花架

• 可自由使用的火花支架

• 标配 12 mm 开口，可选配小零件板和线夹

• 无磨损钨电极

• 低磨损火花支架板

• 气动样品压力，优化用于快速更换样品

• 可选配自动电极清洁

• 每次分析大约消耗 3 升氩气

• 易于清洁

电子产品

• 每像素 16 位 AD 转换

• 带 DSP 处理器的传感器线路控制

• 光谱仪 PC 的 USB 接口

质量重量

• 宽度约 74 厘米

• 高度约 134 厘米

• 深度约 115 厘米

• 重量约 300 公斤

电气连接

• 230V；50/60赫兹；1.5kVA

• 待机模式下约 300 W

环境条件

• 允许的工作温度 10 - 40 ºC

电脑硬件

• 标准电脑系统

• MS Windows® 7 操作系统，具有客户特定的国家和语言设置

软件

• OBLFwin 光谱仪程序

• 简单的常规操作

• 可自由参数化的样品 ID

• 自动再现性控制

• 自动平均

• 超过校准曲线时的警告标志

• 坏样检测（选项）

• 根据客户要求提供任意数量的分析程序

• 每个程序都有单独的分析参数

• 多元校准（考虑线叠加和矩阵效应）

• 多个程序的轻松同时重新校准

• 自动程序选择

• 材料控制和识别

• 类型校准和类型校正

• 光谱仪控制样品的设置和测量

• 显示所选测量的平均值和标准偏差

• 定期重新校准的自动通知

• 自动显示质量名称或材料编号

• 可自由编辑的材料数据库

• 证书打印

• 分析数据库

• 各种统计功能，包括控制图的图形显示

• 自动分析数据导出

• 监控系统值

• 系统诊断模块

• 软件支持的维护任务执行，例如窗户清洁

• 可选单火花模块

• 显示发射光谱和定义线的模块