ICP-OES分析方法的10条常见问题与技巧

电感耦合等离子体原子发射光谱（ICP-OES）分析法是近几十年迅速发展起来的分析技术。它可以测定元素周期表中除少数元素以外的所有元素，具有灵敏度高、干扰少、线性范围宽和同时测定或顺序测定多元素等特点。它是现代科学技术中的一种重要测试手段，已被各领域的检测实验室广泛采用，目前已有大批检测人员在从事该项技术工作。

ICP-OES常见问题与技巧

01. 影响等离子体温度的因素

①载气流量：流量增大，中心部位温度下降；

②载气的压力：激发温度随载气压力的降低而增加；

③频率和输入功率：激发温度随功率增大而增高，近似线性关系，在其他条件相同时，增加频率，放电温度降低；

④第三元素的影响：引入低电离电位的释放剂的等离子体，电子温度将增加。

02. 电离干扰的消除和抑制

原子在火焰或等离子体的蒸气相中电离而产生的干扰。它使火焰中分析元素的中性原子数减少，因而降低分析信号。在标准和分析试样中加入过量的易电离元素，使火焰或等离子体中的自由电子浓度稳定在相当高的水平上，从而抑制或消除分析元素的电离。此外，由于温度愈高，电离度愈大，因此，降低温度也可减少电离干扰。

03. 试剂酸度对ICP-OES法的干扰效应主要表现在哪些方面？

提升率及其中元素的谱线强度均低于水溶液；随着酸度增加，谱线强度显著降低；各种无机酸的影响并不相同，按下列顺序递增：HCl HNO3 HClO4 H3PO4 H2SO4；谱线强度的变化与提升率的变化成正比例。所以在ICP测试中，应尽量的避免使用H3PO4， H2SO4作为介质进行狭缝校正。

04. ICP-OES法中的光谱干扰主要存在的类型

谱线干扰；谱带系对分析谱线的干扰；连续背景对分析谱线的干扰；杂散光引起的干扰；基体干扰；抑制干扰等。对于谱线干扰，一般选择更换谱线，连续背景干扰一般用仪器自带的扣背景的方法消除，基体干扰一般基体区配或标准加入法，抑制干扰一般是分离或基体区配。

05. ICP-OES法分析中灵敏度漂移的校正

在测定过程中，气体压力改变会影响到原子化效率和基态原子的分布；另外，毛细管阻塞、废液排泄不畅，会使溶液提升量和雾化效率受到影响；以及电压变化甚至环境温度等诸多因素都会使灵敏度发生漂移，其校正方法可每测10个样品加测一个与样品组成接近的质控样，并根据所用仪器的新旧程度适当缩短标准化的时间间隔。

06. ICP分析中如何避免样品间的互相沾污？

测量时，不要依次测量浓度悬殊很大的样品，可把浓度相近的样品放在一起测定，测定样品之间，应用蒸馏水冲洗，进标准样品测试标准曲线时，应该从低标到高标仪次进样。

07. ICP-OES法中，用来分解样品的酸，必须满足的条件

尽可能使各种元素迅速、完全分解；所含待测元素的量可忽略不计；分解样品时，待测元素不应损失；与待测元素间不形成不溶性物质；测定时共存元素的影响要小；不损伤雾化器、炬管等。氢氟酸能很快的损坏雾化器、雾室和炬管。

08. 在ICP-OES法中，为什么必须特别重视标准溶液的配置？

不正确的配置方法将导致系统偏差的产生；介质和酸度不合适，会产生沉淀和浑浊；元素分组不当，会引起元素间谱线干扰；试剂和溶剂纯度不够，会引起空白值增加、检测限变差和误差增大。

09. 配制ICP分析用的多元素贮备标准溶液的注意事项

溶剂用高纯酸或超纯酸；用重蒸的离子交换水；使用光谱纯、高纯或基准物质；把有的元素元素分成几组配制，避免谱线干扰或形成沉淀。比如测硅时就要单独测硅。

10. 当采用有机试剂进行ICP分析时，有哪些特殊要求？

高频功率一般应高于水溶液试样；冷却气流量要增高，载气流量要减少，同时应通入较高流量的辅助气；对炬管的结构和安装也有某些特殊要求；多采用链状结构的有机溶剂作稀释剂。